Tsai-Hill 失败准则

Tsai-Hill失败准则

失败准则

Tsai-Hill失败准则适用于复合壳体。

此准则考虑根据载荷存储的总应变能的失真能。失真能是造成形状更改的应变能的部分。其他部分是根据载荷造成体积更改的扩张能（2D中的区域更改）。

图片说明加载2D模型时扩张和失真之间的差异。

对于一个2D薄层，在复合壳体时，假设每个薄层的平面张力状态为 s3 =0, τ13 =0, τ23 =0。失败指数的计算方法如下：

其中：其中：X1 是材料方向1中薄层的张力强度、X2是材料方向2中薄层的张力强，并且S12是薄层的抗剪强度

请参阅复合层材料方向，了解材料方向1和2的定义。

程序会依据薄层失败将安全系数 (FOS) 报告为1/Sqrt (F.I.)。FOS是使用所有应力分量乘以达到的薄层失败 (F.I.=1)的系数。FOS值大于1表示薄层不会失败。

此外，

X1 = X1T   如果 σ1 > 0  

X1 = X1C  如果 σ1 < 0  

X2 = X2T   如果 σ2 > 0  

X2 = X2C  如果 σ2 < 0

上标T和C 分别说明张力和压缩强度。

Tsai-Hill 准则考虑不同应力组件之间的交互。因此这是一个交互失败理论。